首页
产品
基础产品
行数
行明
行智
行业产品
ADC图像缺陷识别与分类
AI4EO时空大数据智能解译平台
市场监管数据中台
法合智汇智审系列
法合智汇智管系列
解决方案
智能制造
泛半导体行业
酒业大数据
军工大数据
智慧治理
市场监管大数据
智慧法治大数据
生态环保大数据
自然资源大数据
智慧应急大数据
智慧园区大数据
行业案例
市场监管应用
智慧法院应用
工业应用
遥感应用
媒体中心
关于我们
关于我们
企业动态
发展历程
荣誉奖项
联系我们
加入我们
免费试用
ADC图像缺陷识别与分类
在工业生产过程中自动对AOI图像进行缺陷检测,对缺陷类型CODE进行判决,并标注缺陷的位置、大小等信息。ADC采用深度学习与传统视觉算法相结合,突破传统图像处理技术的瓶颈,提供高精准的缺陷分类结果。
免费试用
整体
架构
OVERALL STRUCTURE
标准规范体系
产品
亮点
PRODUCT HIGHLGHTS
检测速度快
ms级检测速度,几倍于人工速度。
检测精度高
利用深度学习实现高准确率检测算法,误判率低
标准统一
一套系统,检测结果统一,不会因人而异
减少品质事故
实时的不良监控,减少品质事故发生
产品
示例
PRODUCT sample
应用
场景
APPLICATION SECENARIOS
半导体显示
晶圆硅片
PCB
太阳能
应用
案例
APPLICATION CASE
图像缺陷检测——某AMOLED生产企业
该客户不仅能生产先进的LTPS基板,还具有完备的OLED蒸镀、封装等核心制程能力,能够支持从刚性AMOLED、柔性AMOLED到柔性触摸屏的生产制造,可为智能手机、平板电脑等移动智能终端产品,VR、AR等新兴市场产品,以及智能穿戴、可折叠设备等提供高品质的AMOLED平面、曲面显示器……
查看更多
028-86661321
免费
试用