该项目此前荣获第二届全国人工智能应用场景创新挑战赛总决赛天使组特等奖，以此为基础，经全国人工智能应用场景创新挑战赛组委会推荐申报本次吴文俊人工智能科技进步奖，进一步印证了其技术成果在创新性与应用价值方面获得的广泛认可。

'吴文俊人工智能科学技术奖'是我国智能科学技术领域唯一以享誉海内外的杰出科学家、数学大师、人工智能先驱、首届国家最高科学技术奖获得者吴文俊院士命名的社会力量设奖，具备提名推荐国家科学技术奖的资格，被誉为'中国智能科学技术最高奖'，代表人工智能领域的最高荣誉象征。

该奖项评选机制严苛，聚焦原创性突破，旨在奖励在智能科学技术活动中做出突出贡献的单位和个人，以不断推进中国智能科学技术领域创新与发展。数之联能够从众多申报项目中脱颖而出，充分彰显了其在人工智能领域的技术硬实力与产业贡献度。

自2017年起，数之联便率先基于深度学习技术布局AI缺陷检测业务，是国内最早将人工智能应用于工业质检的探索者之一。针对新型显示行业长期存在的人工依赖度高、检测难度大、效率低、稳定性弱等痛点，项目团队紧密围绕制造强国战略与智能制造重大工程需求，深耕面板、半导体、Mini/Micro LED、电视/显示器等领域的产品表面缺陷智能检测与分析技术。

此次获奖项目由数之联联合在计算机视觉与人工智能领域具有深厚学术积累的电子科技大学，以及国内显示面板领军企业厦门天马微电子有限公司共同完成，形成了'企业主导+高校支撑+用户验证'的产学研协同创新模式。

这种深度融合不仅加速了技术从实验室到生产线的转化，更确保了技术方案能够精准对接产业实际需求。基于算法和数据优势，数之联已在新型显示缺陷检测领域建立了坚实的行业壁垒，成为该细分赛道的领军者。